视频座滴法接触角测定仪
新一代的接触角测量仪包括了从手动到全自动的所有配置。模块化的设计，任何环境气氛下的测试都可以实现。多种测量技术、不同的配置,可以象堆积木一样组合在一起,任何自动化控制上的要求都可实现。
微区取样仪
PHL偏振相机， PHL PI-110 偏振光相机能轻松连接到电脑，实​时观察到极化情况，自带软件，可以输出亮度，极化强度，偏振方向，方便地进行定量分析。   
45MG超声波测厚仪
45MG仪器是款带有各种标准测量功能和软件选项的高超声波测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是款集所有解决方案于机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
HYA比表面积测定仪、比表面积测量仪
1．     测试方法：气体连续流动色谱法测试比表面积。2．     测试范围:0.01m2/g-无已知上限。3．     测试精度：重复性误差〈±2%4．     主机功能：快速测试单
面筋指数测定仪
面筋指数测定仪（KX-208） 是根据GB/T14608-93《小麦粉湿面筋测定方法》和SB/T10248-95《小麦粉湿面筋测定方法-面筋指数法》规定研制生产的一种小麦粉湿面筋脱水和面筋指数测定的专用仪器。整机具有运转平稳，性能稳定、操作方便等特点，是同类进口仪器的理想替代产品。
全自动比表面积及孔径分析测试仪F-Sorb 3400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径（孔隙度）分析测试（测定）仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品，可完全实现测试过程的自动化和智能化，显著提高测试效率.
JW-K氮吸附比表面积及孔径分布测试仪
许多超细粉体材料的表面是不光滑的，甚至是多孔的，而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系，因此，除了测定比表面外，测定粉体材料表面微孔的孔径
LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统
  薄膜/沉积/测量（测定）（压力、面积、时间）/性能研究/薄膜制备/转移/张力测量/分析/吸附/解吸/人工膜/单分子/纳米、微米域制造/生物表面活性/有机发光二极管/单分子光谱/基于Windows操作系统LANGMUIR-BLODGETT膜沉积分析系统，LB膜沉积系统，LB膜分析仪
光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能全面，技术先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样
